Podzim v TESCANu byl nabitý i z pohledu účasti na akcích. Vybíráme ty nejdůležitější z domácího i zahraničního prostředí.
Podzimní škola elektronové mikroskopie
TESCAN byl jedním z hlavních partnerů vzdělávacího kurzu pro postgraduální studenty a mladé vědecké pracovníky působící v oboru elektronové mikroskopie. Akce, pořádaná Ústavem přístrojové techniky AV ČR od 17. do 21. 10., zahrnovala teoretické přednášky i praxi přímo v laboratořích brněnských výrobců elektronových mikroskopů. Mezi úspěšnými absolventy je letos dokonce 11 našich kolegů!
Kromě toho, že jsme studenty PŠEM přivítali v laboratořích, přispěli jsme také do programu přednášek. Této role se za TESCAN zhostili Petr Klímek a Ondřej Šulák, ředitelé produktového marketingu.
Účastníci Podzimní Školy Elektronové Mikroskopie
Workshop Correlative Materials Characterization 2022 (CMC), Drážďany, Německo
Dvoudenní workshop pořádaný Institutem Maxe Plancka pro molekulární buněčnou biologii a genetiku 13.–14. října svedl dohromady komunity z materiálových věd, věd o živé přírodě a polovodičového průmyslu, aby prozkoumaly společné zájmy.
TESCAN reprezentovali kolegové z Německa a Tomáš Šamořil, produktový marketingový manažer pro materiálové vědy, se svou přednáškou „Correlation of Microscopy Techniques for Materials Science Research“.
Tomáš Šamořil, produktový marketingový manažer, na CMC workshopu v Německu
Chalmers Microscopy School, Göteborg, Švédsko
Akce na Technické univerzitě Chalmers se účastnil náš partner NordicNano Solution AB společně s kolegy z Brna – Martinem Suchánkem, Martinem Slámou a Maksymem Klymovem. Martin Sláma vystoupil s přednáškou „Nejnovější pokroky v technikách FIB-SEM“ a Maksym s přednáškou „Analytická 3D charakterizace“, kterou doplnil o školení na mikroskop TESCAN FIB-SEM.
Martin Sláma, produktový marketingový manažer pro materiálové vědy, na Chalmers Microscopy School ve Švédsku
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2022), Pasadena, USA, 30. 10. – 3. 11. 2022
Letošní ročník byl nabitý mnoha inovacemi a informacemi z oblasti testování a analýzy defektů. Tým TESCAN USA doplnili brněnští kolegové Lukáš Hladík, produktový marketingový manažer pro polovodiče, a Karel Novotný, produktový manažer. Na setkání uživatelů FIB-SEM mikroskopů vystoupili s přednáškou „Using Delayering for 3D NAND (Memories) Analysis”.
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2022)
Wiley Analytical Science Conference
Do programu konference, která se uskutečnila 16. listopadu, přispěl webinářem „Optimization of Cryo-TEM Lamella Preparation Workflows to Be Faster and More Accessible” Jakub Javůrek, produktový marketingový manažer pro živé vědy, ve spolupráci s Dominikem Pinkasem z Ústavu molekulární genetiky AV ČR.
Cílem webináře bylo ukázat, jak dosáhnout rychlejšího a optimalizovaného pracovního postupu kryoelektronové tomografie se zmrazenými hydratovanými vzorky pomocí TESCAN AMBER X. Díky zjednodušení celého procesu je nový pracovní postup výrazně rychlejší. Navíc je optimalizován pro držáky TEM s bočním vstupem, aby byla metoda přístupná širší mikroskopické komunitě.
Webinar Optimization of Cryo TEM lamella preparation workflows to be faster and more accessible