- Imagens de alta resolução e alto contraste de materiais de última geração (por exemplo, estruturas catalisadoras, nanotubos, nanopartículas e outras estruturas em nanoescala)
- Excelente plataforma adequada para metrologia MEV/STEM em escala sub-nanométrica
- Configuração rápida do feixe de elétrons – condições ideais de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing™
- Sistema multi-detector TriBE™ e TriSE™ para nanocaracterização de amostras
- Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários
-
- Si negro com nanopartículas de Au
-
- Si negro com nanopartículas de Au
-
- Imagem STEM da sílica mesoporosa