Byli jsme u toho: Mikroskopická Konference 2023 – Darmstadt, Německo

V německém Darmstadtu se od 26. února do 2. března uskutečnila Mikroskopická Konference 2023 (MC 2023) a TESCAN u toho jako diamantový sponzor nemohl chybět. MC 2023 bylo úžasnou příležitostí pro všechny milovníky mikroskopie k seznámení se s nejnovějšími poznatky a trendy, kterými náš obor žije.

Konference nabídla bohatý program plný poutavých přednášek, workshopů, posterů a ukázek. Hlavními řečníky byli renomovaní odborníci z akademického i průmyslového sektoru, kteří sdíleli své zkušenosti a názory na budoucnost mikroskopie.

Mezi odborníky jsme samozřejmě měli své reprezentanty. Hned v pondělí 27. února měli účastníci konference možnost vybrat si hned ze dvou přednášek z dílny TESCANu – Resolution, Speed, Image Quality, and System Versatility in micro-CT od Larse Olivera-Kautschora a CryoTEM sample preparation by FIB-SEM od Ondřeje Šuláka.
V rámci sekce Představení vystavovatelů vystoupil Petr Klímek s prezentací Exellence in science through purposful innovation.

V úterý na ně navázali Dirk van der Wal s představením revolučního TESCAN TENSORu: The Integrated, Precession-Assisted, Analytical 4D-STEM, Jakub Javůrek s 3D Tomography of Large Volumes a Petr Klímek si připravil Faster mm-scale defect/failure analysis by combining plasma FIB milling and Laser Ablation.

Tomáš Šamořil pak ve středu 1. března zaplněnému sálu přednesl The role of Electron Microscopy and Focused ion beam characterization methods in the evaluation of electrochemical materials and their interphases. Plejádu TESCAN hvězd ve čtvrtek uzavřel Martin Sláma s přednáškou Achieve the highest quality and throughput in TEM lamella preparation using TESCANs automation and unique lift out method.

Během celé konference nás návštěvníci mohli najít na stáncích E-01 a E1-24, na kterých jsme pro ně měli připravena dema. Jedno se věnovalo výzkumu baterií a jak jsou naše řešení důležitá pro zvládnutí různých problémů při vývoji a výrobě baterií lithium-iontových.

Druhou exkluzivní ukázkou byl nejnovější systém TENSOR 4D-STEM, který je určen pro potřeby všech, kteří se zajímají o multimodální nanocharakterizační aplikace (morfologické, chemické a strukturní), včetně materiálových vědců, inženýrů zabývajících se výzkumem a vývojem polovodičů a analýzou poruch a krystalografů. TENSOR dema byla naprosto beznadějně obsazena a velký zájem nám udělal radost.

Konference nejen, že poskytla možnost navázat nové kontakty a spolupráci mezi účastníky i sponzory, ale byla také skvělým místem pro setkání v přátelském a inspirativním duchu. Jsme rádi, že jsme mohli být u toho.