Polovodičový průmysl neustále posouvá své hranice jak v objemu produkce, tak i v limitech používaných technologií. Neustále se zvyšující integrace, hustota a miniaturizace logických zařízení vedou k vývoji nových technologií a výrobě stále menších, komplexnějších a rychlejších integrovaných obvodů, které mají navíc nižší energetické nároky.
Skenovací elektronová mikroskopie (SEM) v kombinaci s fokusovaným iontovým paprskem (FIB) je ideální technikou, jak udržet krok s rychlým vývojem polovodičového průmyslu. Nabízí analytické schopnosti s vysokou úrovní přesnosti pro prototypování, kontrolu, určení příčin poruch a další aplikace pro polovodičový průmysl.
